在煙霧彌漫的環(huán)境中，絕緣子的表面可能會(huì)形成污垢層，這會(huì)增加高壓傳輸線上發(fā)生旁路事故的風(fēng)險(xiǎn)。當(dāng)前的霧霾氣候下，研究“十三五”期間超高壓輸電的平穩(wěn)發(fā)展，研究天然廢水絕緣子表面惡臭顆粒的特性非常重要。“以及國家電網(wǎng)的安全運(yùn)行。
　　義近年來，隨著中國工業(yè)化進(jìn)程的迅速發(fā)展，高壓電網(wǎng)的安全運(yùn)行已成為國民經(jīng)濟(jì)持續(xù)發(fā)展的不可或缺的基礎(chǔ)[1、2 ]。于灰塵和煙霧，直接暴露在空氣中的絕緣子表面可能會(huì)形成堵塞層，這會(huì)增加繞過絕緣子的風(fēng)險(xiǎn)，并威脅到高壓電網(wǎng)的安全穩(wěn)定運(yùn)行。壓。了進(jìn)一步研究薄霧環(huán)境下天然煙霧絕緣子表面上被污染顆粒的特性，本文進(jìn)行了自然污染測(cè)試，以揭示煙霧顆粒對(duì)絕緣絕緣的影響。為煙霧環(huán)境中的防污和清潔絕緣子提供參考。緣污染模擬實(shí)驗(yàn)是基礎(chǔ)。
　　文件在蘇州市姑蘇區(qū)蘇州大學(xué)工廠廠房的屋頂上建立了一個(gè)自然污染觀測(cè)試驗(yàn)場(chǎng)，主要是由于煙霧和來自學(xué)生食堂鍋爐室的灰塵和主要道路車輛的廢氣。了恢復(fù)普通輸電塔的高度并防止樹木和校園建筑物被風(fēng)遮擋，本文將在位于建筑物頂部的13米機(jī)器處建立污染控制點(diǎn)。度為m，高度為1.2 m，絕緣體與地面的總距離。于14.2 m，本文件的自然結(jié)垢測(cè)試點(diǎn)用1表示。受自然風(fēng)的阻礙，可以很好地恢復(fù)輸電塔環(huán)境中的隔熱層。測(cè)試開始時(shí)，將清潔過的XP13-160絕緣子正確地放置在觀察點(diǎn)上，僅選擇無雨天氣測(cè)試將絕緣子放置在觀察點(diǎn)上。氣結(jié)束后，繼續(xù)返回觀察點(diǎn)，以避免雨水浸入絕緣子表面。個(gè)試驗(yàn)持續(xù)了一個(gè)月，試驗(yàn)期間下雨的總天數(shù)為12天。試中使用的絕緣樣品是蘇州電瓷廠生產(chǎn)的XP13-160絕緣材料，其參數(shù)如表1所示。

　　關(guān)研究表明，來源更多隨著監(jiān)測(cè)點(diǎn)附近污染的增加，絕緣子表面上的污染沉積很嚴(yán)重[3]。此，在本文件中定義的觀察點(diǎn)，對(duì)煙霧顆粒濃度的公開數(shù)據(jù)的監(jiān)控與煙霧顆粒濃度的監(jiān)控有所不同。此，通用數(shù)字顆粒濃度傳感器PMS7003用于構(gòu)建用于監(jiān)測(cè)大氣霧中顆粒濃度以及自然污染觀測(cè)點(diǎn)附近空間中顆粒濃度的裝置絕緣被監(jiān)控。們制造的大氣顆粒物濃度檢測(cè)裝置如圖2所示。裝置由一個(gè)Arduino單片機(jī)，一個(gè)PMS7003傳感器和一個(gè)電源組成。垢期間觀察點(diǎn)附近的PM2.5和PM10質(zhì)量濃度數(shù)據(jù)如表2所示。
　　緣子表面上的大多數(shù)顆粒都是細(xì)顆粒，例如霧，這就是為什么使用電子顯微鏡（SEM）觀察絕緣子表面上的污染顆粒的原因。
　　先，選擇絕緣子表面上受污染的顆粒采樣區(qū)域，當(dāng)導(dǎo)電條粘附到顆粒上時(shí)，為避免過度用力，導(dǎo)電膠內(nèi)部的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)應(yīng)為在粘合過程中損壞并防止顆粒壓縮。壞失去了其原始形式。后，對(duì)粘附有樣品顆粒的導(dǎo)電條進(jìn)行必要的處理。后，將處理后的樣品放置在電子顯微鏡下的觀察區(qū)內(nèi)，并拍攝所需樣品的照片。文中使用的電子顯微鏡是Hitachi SU5000熱場(chǎng)發(fā)射掃描顯微鏡（請(qǐng)參見圖3）。擇隔離器表面的適當(dāng)采樣區(qū)域以獲得觀察樣本，并獲得掃描的粒子圖像，如圖4所示。
　　4是已知在大霧天氣下絕緣子表面上被污染顆粒的微觀形態(tài)。受污染顆粒尺寸的統(tǒng)計(jì)中，盡管掃描電子顯微鏡可以標(biāo)記受污染顆粒的特定尺寸（如圖4（a）和（b）所示），但在測(cè)試過程中選擇的顆粒樣品是數(shù)量更多，并執(zhí)行顯示的粒子。記和執(zhí)行數(shù)學(xué)統(tǒng)計(jì)是一項(xiàng)非常繁瑣的任務(wù)，因?yàn)镾EM圖像可以測(cè)量受污染顆粒的大小，受污染顆粒的當(dāng)量直徑等于投影表面的直徑。避免繁瑣的統(tǒng)計(jì)和標(biāo)記工作，本文使用圖像處理方法對(duì)粒度進(jìn)行統(tǒng)計(jì)工作。過準(zhǔn)備的圖像處理程序?qū)εK顆粒的圖像處理程序進(jìn)行處理，并基于大津處理（OTSU算法）對(duì)圖像進(jìn)行二值化，電纜處理前后的圖像為如圖5所示。
　　程序重新使用處理后的圖像對(duì)污染顆粒的粒徑分布進(jìn)行計(jì)數(shù)，并分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)以獲得污染顆粒的粒徑分布，如圖6所示。大霧天氣中，自然骯臟的絕緣材料表面上90％的污染顆粒的粒徑小于11μm，污染顆粒的平均粒徑為3.4μm，最大污染粒徑為41微米由于觀察點(diǎn)位于實(shí)驗(yàn)建筑物的頂部，電纜并且距地面一定高度，因此它屬于半高海拔，因?yàn)樽畲?，最重的粒子位于地面附近?br>　　受污染顆粒粒徑分布的概率統(tǒng)計(jì)分析表明，在大霧天氣下，自然污染絕緣子表面受污染顆粒概率分布的總體趨勢(shì)與對(duì)數(shù)正態(tài)概率分布相似，如圖所示。6（a）。了檢驗(yàn)該假設(shè)，圖7中顯示了對(duì)受污染的粒度數(shù)據(jù)的其他統(tǒng)計(jì)分析。以看出，粒度的對(duì)數(shù)正態(tài)百分比概率接近基線，因此推測(cè)是正確的，被污染顆粒的總粒徑分布趨勢(shì)約為對(duì)數(shù)正態(tài)分布。文以XP13-160保溫材料為研究對(duì)象，對(duì)蘇州大學(xué)大樓屋頂進(jìn)行了為期一個(gè)月的自然污染測(cè)試。過自動(dòng)構(gòu)造的大氣霧度顆粒濃度監(jiān)測(cè)裝置控制測(cè)試觀察點(diǎn)附近空間中的霧度顆粒濃度。
　　過Hitachi熱場(chǎng)發(fā)射掃描SU5000掃描電子顯微鏡收集受污染顆粒的電子顯微鏡圖像，并使用圖像處理方法掃描掃描電子顯微鏡圖像。污染的顆粒，然后程序處理圖像上被污染的顆粒的尺寸數(shù)據(jù)。后，分析了所得污染顆粒的總粒度數(shù)據(jù)。大霧天氣下自然沉積在絕緣子表面上的絕緣子表面上，受污染顆粒的粒徑分布的總體趨勢(shì)大致令人滿意，對(duì)數(shù)正態(tài)分布。于觀察點(diǎn)的位置在中海拔且考慮到不利的天氣條件，因此在觀察點(diǎn)處絕緣體表面的90％的粒徑小于11μm，并且平均粒徑污染顆粒的數(shù)量為3.4μm。徑是41μm。
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