在電氣設備的制造過程中，不可避免會出現諸如空氣隙之類的絕緣故障，從而導致絕緣子內部局部放電。部放電現象的出現將加速電網中絕緣子的老化，并導致嚴重的絕緣子故障，從而影響電網的安全性和穩定性。了研究間隙尺寸對固體絕緣局部放電過程的影響，本文研究了局部放電機理，建立了局部放電量測試系統，并給出了不同的尺寸。

　　
　　部放電量下的氣隙和場強分析了外部場強對氣隙放電量的影響。此階段，局部放電是電氣設備絕緣性能差的主要原因，這對設備電源系統的安全運行有較大影響。態隔離器中的局部放電會干擾電源系統中的各種信號，并影響電源系統中設備和儀器的操作和測量精度。前，市場上常見的固體絕緣產品包括干式絕緣變壓器，電動機線材和電磁產品。局部放電過程中會發生一系列物理強度變化，這將加速絕緣產品中絕緣層的老化，甚至導致擊穿。此，研究氣隙大小與局部放電量之間的關系對于電網高壓設備的維護和診斷具有重要意義。固體絕緣產品中，氣隙的局部放電必須滿足以下兩個條件。隙中存在一定的電場，其強度比放電開始時的發電廠高。隙中有可以自由移動的自由電子。局部放電過程中，氣隙將首先被破壞，但周圍環境也具有更好的絕緣性能。
　　氣隙破裂期間，自由電子將被釋放并且自由作用的強度將不同，因此，氣隙破裂的機理將不同。響局部放電量的因素是氣隙的大小和距離。

　　兩者的乘積較小時，氣隙中的帶電粒子會在運動過程中從電場吸收更多能量。帶電粒子與氣體粒子發生碰撞時，會使氣體粒子電離，從而產生新的帶電粒子，氣隙中帶電粒子的濃度隨著碰撞過程而不斷增加。姆森提出的局部放電。氣隙的大小和距離的乘積大時，氣隙中存在的電荷量大，并且在陽極中的連續釋放過程中電子繼續碰撞。場畸變嚴重，局部電場強度的影響非常強。時，空間中的某些電荷將產生復合現象，并且所產生的光子將在氣隙中釋放。些光子形成了在氣隙中局部場強度的作用下衍生的電子崩潰。

　　著電子崩潰數量的增加，崩潰中的電子書和正離子的數量將成倍增長。時，由于電子的遷移速率比正離子的遷移速率高兩個數量級，因此電子在氣隙中的移動速度仍處于塌陷部分，但是大部分正離子保留在其原始位置并繼續移動。極沿該方向移動并與主電子塌陷結合以形成保留，即流動注入機制。了分析氣隙大小對局部放電特性的影響，我們需要使用先進的設備來測量局部放電量。于信號在信號的局部放電期間變化非?？欤⑶疑傻姆烹娦盘柗浅Ｈ?，因此在系統構建期間必須充分考慮信號的測量精度和抗干擾性。試。

　　測試系統使用的設備主要由高壓實驗回路，數字示波器，抗干擾設備，阻抗測量和計算機組成，各種儀器串聯在一起。過測試系統的高檢測靈敏度和測量精度，可以確定部分放電過程中的放電量。測量過程中，我們研究了氣隙大小對垂直和水平方向局部放電量的影響，實驗中使用的主要方法是：首先，確保氣隙的垂直尺寸是恒定的；第二，逐漸增加氣隙的直徑大??；再次，確保氣隙直徑保持不變；最后，更改氣隙的大小。實驗過程中，我們使用了一種漸進方法將電壓施加到絕緣子的故障模型。于在實驗過程中氣隙的放電會有一定的延遲，因此在施加電壓期間，電壓將正確保持，而不會將電壓增加100V。果確定，則為10 s即沒有局部放電現象，請繼續增加電源電壓的大小。著氣隙的橫截面增大，氣隙中的場強連續減小?，F象的原因是放電通道的形成是任意的。著氣隙的橫截面的增加，放電通道形成的可能性增加，電纜并且氣隙中的場強逐漸減小。實驗過程中，我們注意到當氣隙的尺寸小于0.3 mm時，獲得的實驗數據符合上述規則；但是，當氣隙的大小超過0.3mm時，氣隙中的場強的變化與呼吸大小的變化沒有明顯的規律性。們可以推斷出氣隙中場強的振幅與氣隙的縱向橫截面有關。始放電量隨氣隙的橫截面而增加。常，通常使用三容量模型來分析初始氣隙放電的大小，當氣隙大小較大時，僅一部分氣隙會產生放電現象。
　　隙的橫截面越大，初始排放量越大；間隙尺寸越大，初始放電越大。施加場的強度的幅度還引起氣隙中的放電量的顯著變化。氣隙中開始出現放電現象后，連續增加實驗的輸入電壓，以使施加的電場強度有所增加。旦振幅超過某個值，實驗中的氣隙放電量將不會隨場強的增加而增加，而是隨場強的增加而減少。生這種現象的原因有兩個：首先，由于施加場的強度增加，氣隙內部場的強度也增加，導致兩側的電壓降增加局部放電過程中的氣隙；第二個是當施加的電場強度達到一定水平后，間隙中的粒子活性更加強烈，參與放電的間隙尺寸增大，并在該處形成了半導體溝道。隙內部，有效地去除了排放通道。造各種電氣系統設備的成本很高，一旦發生故障，將造成巨大的經濟損失，但是由于在設備制造過程中不可避免地存在某些絕緣故障，例如氣隙，會導致絕緣子內部局部放電。局部電荷的長期影響下，絕緣材料會引起擊穿。文主要研究氣隙尺寸對固體絕緣局部放電過程的影響，建立其測試系統并分析測試結果。
　　本文轉載自
　　電纜 http://www.sup95.com